plc自動(dòng)化控制系統(tǒng)受試設(shè)備的布置

(1)臺(tái)式設(shè)備的布置

plc自動(dòng)化控制系統(tǒng)受試設(shè)備應(yīng)放置在一個(gè)0.8m高的絕緣試驗(yàn)臺(tái)上。

注意：使用非導(dǎo)體支撐均可防止受試設(shè)備的偶然接地和場的畸變。為了保證不岀現(xiàn)場的畸變，支撐體采用非導(dǎo)電體，而不是絕緣層包裹的金屬支架

(2)落地式設(shè)備的布置。

落地式設(shè)備應(yīng)置于高出地面0.1m的非導(dǎo)體支撐物上，而不是絕緣層包裹的金屬構(gòu)架。如果受試設(shè)備質(zhì)量輕且體積小，可以放在0.8m高的平臺(tái)上進(jìn)行試驗(yàn)。這種與標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法的差別應(yīng)在試驗(yàn)報(bào)告中說明。

(3)布線。

如果對(duì)受試設(shè)備的進(jìn)、出線沒有規(guī)定，則使用plc自動(dòng)化控制系統(tǒng)非屏蔽平行導(dǎo)線從受試設(shè)備引出的連線暴露在電磁場中的距離為1m。

受試設(shè)備殼體之間的布線按下列規(guī)定：

使用生產(chǎn)廠商規(guī)定的導(dǎo)線類型和連接器如果生產(chǎn)廠商規(guī)定導(dǎo)線長度不大于3m，則按生產(chǎn)廠商規(guī)定長度用線，導(dǎo)線捆扎成1m長的感應(yīng)較小的線束。

如果生產(chǎn)廠商規(guī)定導(dǎo)線長度大于3m或無規(guī)定，則受輻射的線長為1m，其余長度為去耦部分，比如套上射頻損耗鐵氧體管

(4)屏蔽室。

被試設(shè)備放在屏蔽室的木桌上，然后根據(jù)相應(yīng)的安裝說明接上電源線和信號(hào)線。

試驗(yàn)前，應(yīng)用場探頭在校準(zhǔn)方格某一節(jié)點(diǎn)上檢驗(yàn)所建立的場強(qiáng)強(qiáng)度，產(chǎn)生場的天線和電纜位置應(yīng)與校準(zhǔn)時(shí)一致，測量達(dá)到校準(zhǔn)場強(qiáng)所需的正向功率與校準(zhǔn)均勻時(shí)記錄一致。雙錐和對(duì)數(shù)周期天線放置在距離被試設(shè)備1m處，用1kHz的正弦波對(duì)信號(hào)進(jìn)行80%的幅度調(diào)制后，在1000MHz頻率范圍內(nèi)進(jìn)行掃描測量。

當(dāng)需要時(shí)，可以暫停掃描以調(diào)整射頻信號(hào)電平或振蕩器波段開關(guān)和天線。掃描速度不應(yīng)超過1.5×103十倍頻程/s，在頻率范圍內(nèi)步進(jìn)遞增掃描時(shí)，應(yīng)在校準(zhǔn)點(diǎn)之間采用線性插入法，以不超過基頻1%步長掃描，試驗(yàn)場強(qiáng)為規(guī)定值。

(5)發(fā)射天線應(yīng)對(duì)受試設(shè)備的4個(gè)面之每一側(cè)面進(jìn)行試驗(yàn)。plc自動(dòng)化控制系統(tǒng)對(duì)于雙錐形發(fā)射天線要在受試設(shè)備的每一側(cè)面進(jìn)行兩種極化狀態(tài)試驗(yàn)，一次在天線垂直極化位置，一次在天線水平極化位置。

對(duì)數(shù)周期天線產(chǎn)生的是圓形極化場，就不必改變天線的位置當(dāng)被試設(shè)備能以不同方向(如垂直或水平)放置使用時(shí)，各個(gè)側(cè)面均應(yīng)進(jìn)行試驗(yàn)。

(6)帶狀線電路。

對(duì)被試設(shè)備的每一側(cè)面要在發(fā)射天線的兩種極化狀態(tài)下進(jìn)行試驗(yàn)。一次在天線垂直極化位置，一次在天線水平極化位置。